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激光跟蹤儀使用注意事項須知
2021-08-16 GTS激光跟蹤儀是一種空間大尺寸三維坐標精密測量的幾何量儀器，不僅可以對靜止的空間目標進行高精度三維測量，還可以對運動的目標進行跟蹤測量，是大尺寸精密測量的主要手段。激光跟蹤儀作為一款高精測量儀器，為充分發揮其效能，在保管、維護、使用時必須遵循相關要求：1、激光跟蹤儀專人保管，單獨設立儀器使用記錄本，嚴格出借管理制度。2、主機及配件借出時應配有儀器交接清單，收回時應檢查儀器交接清單上的配件數量及狀態。3、未經培訓或培訓不合格的人員不允許使用儀器4、儀器非光學部分的表面保持干凈...
SuperView W1白光干涉儀——微觀形貌測量利器
2021-08-11 近年來，在新興技術的高速發展和強力推動下，超精密加工技術不斷發展和進步。微機電系統、微光學元件等微觀結構的制造與發展，對微結構表面形貌測量的高精度和高可靠性等要求日漸提高。表面形貌不僅對接觸部件的機械與物理特性產生影響，而且也會影響非接觸表面的特性，如光學器件的反射等等。對結構的測量是對結構加工的先決條件和質量保證，所以表面形貌的測量在材料和工程零部件的屬性和功能方面起著至關重要的作用，由此對于微納結構的測量方法精度要求越來越高，表面形貌測量技術在技術成熟方面和應用范圍方面都...
如何正確使用高精度光柵測長機校準量塊
2021-08-04 由于量塊作為長度基準的特殊性，因此需要保證它在有效使用期限內的長期數據穩定性，定期對它的長度數據進行校準，得到它的長期數據變化趨勢才能有效預防失效。目前，校準量塊的主要方法是測長機的接觸式測量法，高精度光柵測長機在校準量塊過程中容易受到儀器精度、環境因素等影響，因此想要很準確地校準出量塊的真值需要分析造成校準誤差的真實原因。隨著超高精密導軌技術、高精密加工技術、高精度溫度修正補償、高精密光柵技術和智能化軟件等關鍵技術的成熟應用，通過有效的補償手段及系統誤差補償，可以有效的對量...
VPCB尺寸全檢效率低？VX9000掃描式影像測量機輕松搞定
2021-07-26 PCB，又稱印刷電路板，是電子元器件電氣連接的提供者和載體，隨著電子產品快速更新換代，PCB變得更加精細，對質量的要求更高，尺寸需要全檢，而且生產規模也越來越大，傳統的檢測手段已經很難滿足測量效率要求，業內迫切需要一種新型測量效率高的設備。各種PCB測量項目一.平面尺寸1）PCB的外形長寬、孔徑（圓孔、方孔、異形孔）、孔到孔的距離、孔到邊（線）的距離、槽寬、槽長、圓弧、角度等；2）焊盤的長寬、焊盤到焊盤的距離、焊盤到邊（線）的距離、焊盤到孔的距離、焊環大小、焊盤中心線位置等；...
為啥都在用影像輪廓儀——VX系列閃測儀？
2021-07-26 輪廓尺寸測量是機械加工生產中不可少的一道工序，傳統的檢測手段主要是卡尺、觸針式輪廓儀、二次元等，但是這些傳統儀器存在以下弊端如：測量對象的定位、原點定位費時，批量測量操作時間長，不同測量人員導致測量結果不同，數據統計管理繁雜等。VX系列影像輪廓儀橫空出世后，一掃以上難題。作為一種新型輪廓尺寸測量儀器，采用雙遠心高分辨率光學鏡頭，結合高精度圖像分析算法，并融入一鍵閃測原理。CNC模式下，只需按下啟動鍵，儀器即可根據工件的形狀自動定位測量對象、匹配模板、測量評價、報表生成，真正實...
激光干涉儀的原理是怎樣的？
2021-07-21 激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。和單頻激光干涉儀一樣，激光干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。激光干涉儀可以在恒溫，恒濕，防震的計量室內檢定量塊，量桿，刻尺和坐標測量機等。它既可以對幾十米的大量程進行精密測量，也可以對手表零件等微小運動進行精密測量，既可以對幾何量如長度、角度.直線度、平行度、平面度、垂直度等進行測量，也可以用于特殊場合，諸如半導體光刻技術的微定位和計算機存儲器上記錄槽間距的測量等等。激光干涉儀的原理：激光干涉儀的...
在機測量的概念到底是啥？
2021-07-16 在機測量就是加工測量一體，工件加工完成后，程序驅動測頭對工件進行檢測，合格后進入下一道工序，如此往復，直至工件加工完成，傳統的測量方式叫脫機測量，就是工件加工后需要取下來放到三坐標/輪廓儀/影像儀等設備上進行測量。在機測量系統由在線檢測電腦軟件+COMP40觸發測頭+COMI接收器組成。在機測量系統是使用高精度測量探頭和專用測量程序進行在機測量的自動探測系統。使用觸發式探頭，利用基于UG平臺開發的電腦軟件編輯檢測程序，可以進行位置度、孔徑、距離、高差、角度、垂直度、同軸度、平...
形貌儀的五大顯著特點你可記清楚了？
2021-07-15 目前隨著科學技術的進步，形貌儀得到了改進和升級，能夠對不同的測試樣品材料，進行精準測量，局限性和受限制范圍越來越小，而且測量的準確度也越來越高。形貌儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。形貌儀的性能特點：1、高精...

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